上海棱光近紅外分光光度計S430

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參　數(shù)：
儀器波長范圍：900~2500nm
光譜帶寬：8nm
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詳細(xì)介紹

近紅外光譜分析儀（Near Infrared Spectroscopy Analyzer，NIR光譜儀）是一種常用的非破壞性分析儀器，用于對物質(zhì)進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。

近紅外光譜分析儀工作原理：

近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段（約700-2500 nm）吸收和散射特性來獲得相關(guān)信息。

儀器通過發(fā)射一束寬帶的近紅外輻射，并測量經(jīng)過樣品后返回的反射或透射信號。

比較待測物質(zhì)與參考標(biāo)準(zhǔn)之間的差異，利用數(shù)學(xué)算法建立模型，并根據(jù)模型預(yù)測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。

近紅外光譜分析儀特點和優(yōu)勢：

1、非破壞性：不需要對樣品進行處理或破壞，可直接對固體、液體及氣體等不同形態(tài)的樣品進行檢測。

2、快速：可以在幾秒鐘到幾分鐘內(nèi)完成一次掃描和數(shù)據(jù)處理，提供即時結(jié)果。

3、多參數(shù)檢測：可以同時檢測多個組分或?qū)傩?，在藥品、食品、化工等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。

4、無需樣品制備：不需要對樣品進行處理、稀釋或前處理，降低了操作的復(fù)雜性和時間成本。

近紅外光譜分析儀使用操作規(guī)程：

1、根據(jù)使用說明書正確安裝儀器并連接所需電源和數(shù)據(jù)傳輸線。

2、打開儀器電源，并根據(jù)實驗要求選擇合適的波長范圍及參數(shù)設(shè)置。

3、準(zhǔn)備好待測物質(zhì)樣品，將其放置在樣品池或傳感區(qū)域中。

4、啟動測量程序，在一定時間內(nèi)記錄下讀數(shù)穩(wěn)定后的光強值或吸收譜線。

5、根據(jù)需要進行多次測量以獲得平均值，并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。

近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器，通過近紅外光譜技術(shù)獲取物質(zhì)的吸收和散射信息來預(yù)測其組成、含量或其他屬性，了解其工作原理、使用操作規(guī)程以及優(yōu)勢可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結(jié)果。

項目	內(nèi)容
儀器型號	S430
測量方式	透射樣品池
探測器	日本濱松制冷型銦鎵砷（InGaAs）
光譜帶寬nm	8
波長范圍nm	900~2500
波長準(zhǔn)確度nm	±0.2
波長重復(fù)性nm	≤0.05
雜散光%	≤0.1
吸光度噪聲Abs	≤0.0005
分析時間	1分鐘（可調(diào)節(jié)）
數(shù)據(jù)傳輸方式	USB2.0
定標(biāo)技術(shù)	MPLS改進最小二乘法回歸定標(biāo)技術(shù)
定標(biāo)技術(shù)	DPLS光譜鑒定及定性分析技術(shù)

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